產品詳情
CBTZ半自動探針臺
CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試,
操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。
與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試 。
CBTZ半自動探針臺
主要技術參數
可測片型:3 寸、 4寸、5寸,6寸、8寸
測試硅片單元尺寸:20—200 mil
定位精度:≤ ±0.01mm/110mm
自動對準精度:±0.01mm
誤測率:≤ 1 ‰
全自動對位時間:≤ 15 s
測試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進分辨率:0.001
Z向行程:0~5mm 可調
承片臺轉角θ調節范圍:±20o
CBTZ-3100Z型自動對位探針臺能 對晶片實現自動對位測試,操作簡單, 快捷,測試精度高,具有MAP顯示功 能。它與測試儀連接后,能自動完成 對各種晶體管芯的電參數測試及功能 測試 。 | |
操作方式CBTZ型自動對位探針臺 <span text-align:center;font-size:12px;"="" style="font-family: Arial"> 機器軟件的操作界面 | 除此之外還提供了更加簡潔 方 便的小鍵盤操作方式,操作者可依據 個人偏好和習慣選擇任意種操作 。 功能小鍵盤 |
機器功能具有自動掃描對位功能,對位精度 | 具有圓形測試,范圍重測,探邊 測試,范圍打點,回收測試,矩形測試和脫機打點多種測試功能。 |