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- CBTZ半自動探針臺
CBTZ半自動探針臺 CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試, 操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試
- 型號:CBTZ
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CGO-2/CGO-4/CGO-6CGO-高低溫真空探針臺
CGO-高低溫真空探針臺 溫度范圍77K-675K(液氮); 可應用于真空及常規環境; 超高溫度分辨率; 特殊客制低溫系統; 具有*穩定性
- 型號:CGO-2/CGO-4/CGO-6
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C高溫探針臺
高溫探針臺可用于8英寸以內樣品測試 ; 可滿足500度高溫測試 ; 溫度穩定性高 ;兼容IV/CV/RF測試
- 型號:CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CW-4IGBT高壓大電流測試探針臺
IGBT高壓大電流測試探針臺$nCINDBEST CW-4 | 4“ 高壓大電流探針臺測試系統$n可用于8英寸以內樣品測試 ;$n可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用
- 型號:CW-4
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CH12綜合性分析探針臺測試系統
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統 最大可用于12英寸以內樣品測試; 操作便捷,功能其全,高效精準 ; 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
- 型號:CH12
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CH-8綜合性分析探針臺測試系統
12“ 綜合性分析探針臺測試系統: 最大可用于12英寸以內樣品測試; 操作便捷,功能其全,高效精準 ; 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
- 型號:CH-8
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CL-6精密I-V測試測量探針臺系統
精密I-V測試測量探針臺系統特點 / 應用 ◆ 滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.,◆ 最大可用于8英寸以內樣品測試,同軸絲杠傳動結構,線性移動,兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動,可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用 CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動 ;可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用
- 型號:CL-6
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議